| "Badanie uziarnienia materiałów mineralnych 0,5 µm- 100mm" |
Dziedzina
Pomiary, Suma sit
Przyrząd
IPS L, 2DiSA, IPS A, IPS U, AWK 3D, AWK B
Abstrakt
Opracowano unikalny system składający się z kilku analizatorów optyczno-elektronicznych wykorzystujący metodę „Elsieve” do pomiaru krzywej uziarnienia. W zależności od potrzeb każdy z analizatorów może mierzyć oddzielnie lub przy wykorzystaniu odpowiedniego oprogramowania uzupełniać zespół sit pomiarowych.
Zespoły analizatorów przeznaczonych do pomiaru różnych frakcji uziarnienia materiałów mineralnych można łączyć w dowolny system, a ich wyniki sumować. Przedstawiony system jest zgodny z normą PN-EN ISO 14688-2:2006 r. pt. Badania geotechniczne. Oznaczanie i klasyfikowanie gruntów. Część 2. Zasady klasyfikowania p. 4.3.
Źródło
Kruszywa mineralne: Surowce – Rynek – Technologie – Jakość
Szklarska Poręba, Polska, 15-17 kwietnia 2009