Geologia

W chwili obecnej tradycyjne techniki pomiarowe w laboratoiach geologicznych wypierane są przez nowczesne, elektroniczne analizatory,
które pozwalają na poprawienie dokładności i kompleksowości badań przy jednoczesnym skróceniu czasu ich przeprowadzania.

Pomiar elektroniczny może wyeliminować większość błędów ludzkich, a w przypadku analizy sitowej niweluje także wpływ rozkalibrowania sit
oraz wpływ zmian rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie.

IPS L

Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych).
Pozwala na zastąpienie żmudnej analizy areometrycznej gruntu pomiarem elektronicznym.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm

IPS U

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm

IPS A

Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm

AWK 3D

Przyrząd do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków).
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
Do trójwymiarowego określania kształtu ziaren
Zakres pomiarowy 0,2 - 31,5 mm

AWK B

Przyrząd do automatycznego pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia grubych kruszyw
Zastępuje pomiary według sił mechanicznych.
Służy do określania kształtu ziaren.
Przyrząd może być wykonany w wersji trójwymiarowej, wówczas ma takie same możliwości jak AWK 3D
Zakres pomiarowy: 1 - 130 mm

System MM

System do pomiaru uziarnienia, który pozwala łączyć wyniki pomiarów z każdego naszego analizatora.
Łączny zakres pomiarowy: 0,2 µm - 130 mm.