Badanie uziarnienia materiałów mineralnych
zasady uczestnictwa regulamin

Metalurgia


W branży odlewniczej analiza granulometryczna za pomocą optyczno-elektronicznych przyrządów może zastąpić analizę sitową według PN 83/H-11077. 
Powyższa norma ustanawia pomiar piasków o przewadze ziarnistości cząstek większych niż 0,077 mm od sita 0,056 mm do sita 1,6 mm 
i pomiar betonitu o przewadze ziarnistości cząstek mniejszych niż 0,077 mm od sita 0,040 mm do sita 0,200 mm. 

Przyrządy produkcji KAMIKA umożliwiają pomiar dowolnego materiału używanego do produkcji mas formierskich łącznie z pomiarem granulacji kulek szklanych. 

Każdy pomiar można zarchiwizować. Po pomiarze wyniki mogą być przedstawione zgodnie z normą PN 83/H-11077l ub przeliczone na dowolny zestaw 11 sit. 

Ponadto oprogramowanie analizatorów, zgodnie z normą PN 83/H-11077 daje możliwość obliczania powierzchni właściwej i wskaźnika kształtu ziaren materiałów formierskich. 

Pomiar elektroniczny może wyeliminować wpływ rozkalibrowania sit oraz wpływ zmian rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej 
zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie.

IPS U

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm

IPS A

Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm

IPS L

Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych).
Pomiar cząstek stałych i olejowych.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm


Quality Media Design